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探针台__可靠性测试系统_射频探针台_半自动探针台_高低温探针台_全自动探针台_Hanwa esd静电测试仪_Pulsed IV测试系统_Load Pull-Maury Tuner深圳市易捷测试技术有限公司

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网站编号:17795

网站URL:https://www.gbit.net.cn

最后点入:2024-04-20 21:31:13 · 加入时间:2024-04-20 21:31:13

网站关键词(110个字符):
单die芯片测试机芯片esd测试设备HANWATLP测试仪芯片ESD测试机芯片分选机BGA植球机芯片贴片机Hanwaesd测试设备CMOS成像传感器测量仪激光雷达/SPAD单光子雪崩二极管分析测量设备

网站描述词(394个字符):
深圳市易捷测试技术有限公司,简称易捷测试(GBIT)。是中国半导体晶圆测试系统集成解决方案供应商。易捷测试拥有自主研发半导体晶圆测试系统软件平台GBITEST。可以集成MPI探针台、TSK探针台、OPUS探针台等成熟的全自动探针台或半自动探针台、控制Keysight的半导体分析仪、网络分析仪、国产网络分析仪等,可搭建成硅光晶圆测试系统集成、高功率晶圆测试系统集成、射频微波测量系统、有源负载牵引系统、材料测试系统、脉冲IV测试系统、PulsedIV测试系统、光学影像感测系统。业务涉及探针台、射频探针、手动探针台、射频探针台、半自动探针台、高低温探针台、半导体晶圆级测试、MPI探针台,材料测试设备、光电探测仪、MAURYTUNER、BGA植球机、激光植球机、芯片分选机、晶圆挑片机、全自动分选机、TLP测试仪、全自动ESD测试机、CDM测试仪、量子效率光学检测设备、SPAD测量设备等

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